チュートリアルは、計測と制御の基礎知識を体系的に整理して身につける講座です。
事前申込は締め切りました。
当日会場にてお申し込みを受付いたします。
受講ご希望のお客様は、直接各講演会場受付までお越しください。
※専門カンファレンス/チュートリアル受講料には、11月18日、19日は「日経エレクトロニクス」、 11月20日は「日経ものづくり」の半年間購読が含まれます。 なお、既に各誌をご購読中の方は半年間購読を延長させていただきます。知人へのギフトも可能です。
| T1 | 13：30-15：30 | 会場： 会議棟 102会議室 |
13：30-14：30
電子計測技術者のためのアナログ技術再入門（1）
測定対象物からAD変換器まで
神奈川工科大学
工学部 電気電子情報工学科 教授
小室 貴紀 氏
デジタル技術の重要性は言うまでもないが、測定対象物（DUT)と測定器を結ぶ部分はアナログ信号の場合が多く、アナログ技術を理解することも必要である。本講演では、直流から数ＧＨｚ程度の周波数の信号に対して、DUTと測定器の接続における注意事項をまとめる形で、電子計測におけるアナログ技術をわかりやすく解説する。
| T1 | 13：30-15：30 | 会場： 会議棟 102会議室 |
14：30-15：30
電子計測技術者のためのアナログ技術再入門（2）
AD変換器のデジタル誤差補正・自己校正技術
群馬大学 大学院
工学研究科 電気電子工学専攻 教授
小林 春夫 氏
近年、微細CMOSを用いたAD変換器の高性能化技術としてデジタル誤差補正技術・自己校正技術が大きな関心を集めている。これは回路構成・動作に冗長性をもたせてエラーが生じても正解を出力できる、回路の非理想的要因を自分自身の回路を用いて自動的に計測し、補正するというように、ＡＤ変換器チップ内に信号処理技術・計測制御技術を用いて高性能化を図る技術である。逐次比較近似ＡＤ変換器、パイプラインＡＤ変換器、インターリーブＡＤ変換器等を例にとり、これらの技術をわかりやすく解説する。
| T2 | 13：30-15：30 | 会場： 会議棟 102会議室 |
電子機器内のEMC問題の評価手法と対策
―デジタル無線通信機能を持つモバイル機器における自家中毒―
太陽誘電株式会社
EMCセンター課長
風間 智 氏
デジタル無線通信機能を持つモバイル機器において自家中毒問題を引き起こすノイズの有効な測定手法であるAPD(amplitude probability distribution：振幅確率分布）を用いたノイズの評価方法を基礎から説明すると共に、その手法を用いた具体的な自家中毒の対策事例を紹介する。
| T3 | 13：30-15：30 | 会場： 会議棟 102会議室 |
実時間高速ビジョンとその工業応用について
広島大学 工学研究科
複雑システム工学専攻 教授
石井 抱 氏
秒間1,000コマ以上で動作する実時間高速ビジョンを概説し、カラー追跡、オプティカルフロー検出等の動作事例を通じ、人間の視覚能力を超えるハイパービジョンとしての有効性を論じる。また、工業計測に向けた開発事例を紹介し、生産ラインでの瞬時検査に向けた実時間センシングツールとしての可能性を議論する。
※講演内容、講演者などは都合により予告なく変更する場合があります。予めご了承ください。