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名 称 |
計測展2005 TOKYO −Measurement and Control Show 2005 TOKYO |
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テーマ |
測ると見える 未来の技術 |
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会 期 |
2005年11月9日（水）〜11月11日（金） 3日間 （10：00〜17：00） |
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会 場 |
東京ビッグサイト（有明・東京国際展示場） 西1・2ホール 〒135-0063 東京都江東区有明3-21-1 TEL：03-5530-1111 |
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主 催 |
社団法人 日本電気計測器工業会 |
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共 催 |
日経ＢＰ社 |
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後 援 |
文部科学省、経済産業省、環境省（以上、申請予定） |
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協 賛 |
（独）産業技術総合研究所、（独）製品評価技術基盤機構、（財）日本品質保証機構、日本電気計器検定所、（独）日本貿易振興機構（ジェトロ）、（社）計測自動制御学会、（社）日本機械学会、（社）日本電機工業会、（社）日本電気制御機器工業会 （以上、申請予定） |
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併催事業 |
基調講演、専門カンファレンス及び出展各社によるテクニカルセミナーの開催等 |
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来場者数 |
50,000名（予定） |
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入場料 |
1,000円（消費税込） |
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募集小間数 |
500小間（予定） |
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