計測展2007TOKYO
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チュートリアル

計測と制御の基礎知識を体系的に整理して身につける講座です。

事前申込は締め切りました。当日会場にてお申し込みを受付いたします。
受講ご希望のお客様は、直接各講演会場受付までお越しください。

※なお満席の講座については、当日キャンセルがあった場合に聴講可能です。

※専門カンファレンス/チュートリアル受講料には、11月7日、8日は「日経エレクトロニクス」、 11月9日は「日経ものづくり」の半年間購読料金が含まれます。 なお、既に各誌をご購読中の方は半年間購読を延長させていただきます。

有料 当日10,000円税込

11月7日(水)13:30-16:30
受講申込T1 計測技術者が知っておくべきアナログ回路の基礎
Part1-電子計測者のためのアナログ技術再入門
小林氏群馬大学
大学院 工学研究科 電気電子工学専攻 教授 
小林 春夫 氏
このチュートリアルでは波形のサンプリング技術をアナログ技術を関連させて説明する。
サンプリング技術はアナログ回路のアーキテクチャ・回路方式の設計,性能の測定 評価で用いる重要な技術の一つであり,その理論から回路実現に至るまでさまざまな面白い問題がある。
具体的にはコヒーレント・サンプリング,オーバー・サンプリング,等価時間サンプリング,シーケンシャルサンプリング、ランダムサンプリング, ダウン・サンプリング,サブサンプリング,アップサンプリング, インパルス・サンプリング,非一様サンプリング,サンプリングレート変換等の波形サンプリング技術およびスイッチド・キャパシタ 回路,サンプリング回路でのジッタの影響等についてアナログ技術と関連させて述べる。
Part2-測定器の持つ誤差と使い方による誤差
小室氏アジレント・テクノロジー・インターナショナル(株)
半導体パラメトリックテスト事業部 シニアエンジニア 
小室 貴紀 氏
電子計測は,エレクトロニクスに関わる技術者にとって必須の技術である。しかし,エレクトロニクスは裾野が広くまた進歩が激しい分野であり,限られた時間でその計測技術を体系的に習得することは難しい。本講演では,その中でもアナログ技術に関係する以下のトピックスについて説明を行う。
1)測定器の持つ誤差と使い方により付加される誤差
簡単な回路を例として,その測定を行う際の注意事項を,さまざまな角度から検討する。キーワードは,「仕様書の項目」,「誤差,誤動作,破壊」など。
2)RF回路を例として設計と測定の融合
電子装置の設計で用いられるシミュレータと計測の関係を簡単に説明する。キーワードは「コンピュータと計測」,「統合環境のもたらすもの」など。
3)新しい計測のヒント
電子計測器周辺の話題などをいくつか述べる。キーワードは「古い皮袋に新しい酒」,「Interoperability」。
Part3-オシロスコープのプローブの使い方とバス解析
金子氏横河電機(株)
通信・測定器事業部 高周波計測開発センター センター長 
金子 洋 氏
1)オシロスコープのプローブの使い方
アナログ回路の波形観測にオシロスコープは必須のツールである。しかし,オシロスコープはプローブの使い方によって観測する波形が大きく変わることがある。プローブの負荷効果で観測する波形がどのように変るかを,実例をもとに紹介する。また負荷効果を等価回路で説明し,最適なプローブの選び方を解説する。
2)最新のオシロスコープの機能
最近のオシロスコープは単なる波形観測ツールではなく,各社ともさまざまな解析機能を搭載している。バス解析やミックスド・シグナル(アナログ・デジタル混在)観測の事例を紹介する。


11月8日(木)13:30-15:30
T2 クルマの安全を支える最新計測技術
クルマの安全を支える最新計測技術
新氏電気通信大学
電気通信学部 システム工学科 教授 
新 誠一 氏
自動車は現代の生活を支える便利な道具である。しかし,同時に危険な道具でもある。莫大な運動エネルギーを持つ自動車を安全,安心に動作させるために最新の計測技術が使われている。その一つはカメラの搭載である。後方,前方,側方などの監視カメラが搭載されている。それも可視光だけでなくナイト・ビューと呼ばれる赤外線カメラも搭載されつつある。加えて,雨や霧に強いミリ波レーダーも搭載され,これら複数の測定画像から歩行者や障害物を検出するセンサ・フュージョンが一つのトレンドである。これらに加えて,現在はドライバーやパッセンジャーなどの乗員に対する計測も大きなトレンドになり始めている。既に,脇見検出は商用化されているが,これに加えて居眠り検知,飲酒検知など生体を対象とした計測技術が自動車に多用されようとしている。本講演では,この自動車に起きつつある新しい計測技術の動向を実例も交えて解説する。


11月9日(金)13:30-15:30
T3 生産性を高める3次元計測
現物融合エンジニアリング -生産性を高める3次元計測情報活用技術-
鈴木氏東京大学
先端科学技術研究センター 教授 
鈴木 宏正 氏
光学式スキャナーやX線CTなどの3次元スキャニング装置の高度化・普及により,そのスキャン・データをCADやCAEなどで活用する取り組みが広まっている。これまでの意匠曲面モデル作成のためのリバース・エンジニアリングに留まらず,例えば,購入部品の計測データによってCAEモデルを生成して性能評価を行ったり,技能者が修正した金型形状を計測して金型のCADモデルを修正したりする取り組みが広がっている。しかし高度化するスキャン技術に比べ,そのスキャン・データを利用するためには,非常に面倒で多大な工数を要する手作業(オペレーション)が必要であり,大きな問題となっている。ここでは,スキャン・データの取得から,それをCADやCAEで活用するまでのデータ処理技術(モデリング技術)について,事例を交えて解説する。

     ※講演内容、講演者などは都合により予告なく変更する場合があります。予めご了承ください。